A nanoscale study of MOSFETs reliability and Resistive Switching in RRAM devices 

Wu, Qian (Date of defense: 2017-01-18)

El continuo escalado de la tecnología CMOS ha supuesto un gran reto en cuanto a la fiabilidad de dispositivos MOSFET se refiere debido al aumento del campo eléctrico en su interior, el cual ha dado lugar a la aparición de ...