Caracterització, reconeixement de patrons i detecció de defectes en textures periòdiques mitjançant anàlisi d'imatges. Aplicació a teixits textils 

    Escofet Soteras, Jaume (Date of defense: 1999-09-23)

    La forta exigència de qualitat a que són sotmesos els productes actuals fa que els processos d'inspecció i control industrial ocupin, cada vegada més, un lloc destacat en la seva fabricació. La indústria relacionada amb ...

    Topographic measurements of non-rotationally symmetrical concave surfaces using Ronchi deflectometry 

    Royo Royo, Santiago (Date of defense: 1999-07-08)

    El objetivo de la presente Tesis es el desarrollo de un sistema de medidas topográficas de superficies sin simetría de rotación, que se ha aplicado a superficies toroidales. No tenemos constancia de que este tipo de medidas ...