Universitat Politècnica de Catalunya
Now showing items 1-2 of 2
Des de la seva creació, el microscopi de força atòmica (AFM) ha estat àmpliament utilitzat sobretot per la caracterització de superfícies, obtenint imatges topogràfiques amb una resolució espacial de l’ordre o fins i tot ...
El present treball analitza l'aplicabilitat de diferents tècniques, originalment ideades per al tractament de xàfecs que fan ús d'imatges IR de satèl·lit per estimar la precipitació amb una finalitat climatològica en la ...
