Caracterització elèctrica de circuits CMOS digitals amb defectes tipus pont: implicacions al test per corrent quiescent 

Rodríguez Montañés, Rosa (Date of defense: 1992-12-17)

La tesis contribuye a los esfuerzos dirigidos a la consecución de modelaciones precisas de los fallos de tipo puente. La tecnología de los circuitos digitales considerados es la CMOS estática. En la tesis se utiliza un ...