Ara mostrant els elements 1-1 de 1

    Desenvolupament d'un microscopi òptic de camp proper (SNOM) per a la caracterització de components optoelectrònics integrats 

    Borrisé Nogué, Xavier (Data de defensa: 2000-11-17)

    L'objectiu principal d'aquesta tesi és el desenvolupament d'una nova eina de caracterització local, basada en tècniques de microscòpia d'escombrat, que permeti estudiar la propagació de la llum en medis de guiat òptic. ...