Study and Modeling of Multi‐ Gate Transistors in the Context of CMOS Technology Scaling 

Chaves Romero, Ferney Alveiro (Date of defense: 2012-05-31)

L’escalat dels transistors MOSFET convencionals ha portat a aquests dispositius a la nanoescala per incrementar tant les seves prestacions com el nombre de components per xip. En aquest process d’escalat, els coneguts ...