TCAD study of interface traps-related variability in ultra-scaled MOSFETs 

Velayudhan, Vikas (Date of defense: 2016-11-28)

El trabajo desarrollado en esta tesis se ha enfocado en el análisis y estudio del impacto que tienen en la variabilidad de MOSFETs ultraescalados el número y la distribución espacial de las trampas interficiales. En los ...