Mostrando ítems 1-3 de 3
Escofet Soteras, Jaume (Fecha de defensa: 1999-09-23)
La forta exigència de qualitat a que són sotmesos els productes actuals fa que els processos d'inspecció i control industrial ocupin, cada vegada més, un lloc destacat en la seva fabricació. La indústria relacionada amb ...
Pérez Cabré, Elisabet (Fecha de defensa: 1998-12-01)
En el panorama actual dels processadors d'imatges basats en la correlació òptica, es pot dir que s'ha avançat molt per aconseguir un augment de la capacitat discriminativa del sistema de reconeixement que permeti diferenciar ...
Royo Royo, Santiago (Fecha de defensa: 1999-07-08)
El objetivo de la presente Tesis es el desarrollo de un sistema de medidas topográficas de superficies sin simetría de rotación, que se ha aplicado a superficies toroidales. No tenemos constancia de que este tipo de medidas ...