Diseño de amplificadores de bajo ruido en banda milimétrica


llistat de metadades

Director

Artal Latorre, Eduardo

Date of defense

1989-11-16

ISBN

9788469256220

Legal Deposit

B.38088-2009



Department/Institute

Universitat Politècnica de Catalunya. Departament de Teoria del Senyal i Comunicacions

Abstract

Sin tener en cuenta introducción y conclusiones, la tesis doctoral esta dividida en 6 capítulos. Los dos primeros tratan del ruido eléctrico asociado a los dispositivos activos (transistores Gaas Fet y Hemt) utilizados en los amplificadores, y de su medición.<br/><br/> En el capitulo i se propone y desarrolla una formulación del error cometido en las medidas de factor de ruido que utilicen el método del factor y, y se presentan las cotas calculadas para la medida de dos amplificadores, en la banda de 2.6 GHZ y 30 GHZ, respectivamente. <br/><br/>En el capitulo II se propone y desarrolla una formulación para la extracción del factor de ruido a partir de medidas no corregidas, cuya finalidad es incrementar la precisión en la medición de este respecto a los métodos convencionales. También se proponen métodos de medida de los parámetros de ruido basados en medidas redundantes del factor de ruido y se presentan resultados experimentales a 2 GHZ.<br/><br/> En los capítulos III, IV y v se trata el tema de la medida de los parámetros s de los dispositivos activos (transistores Gaas Fet y Hemt) utilizados en la banda milimétrica (hasta 40 GHZ), poniendo un énfasis especial en el estudio de las técnicas de calibración de analizadores de redes y de los errores de medida. El capitulo III pasa revista de las técnicas de calibración mas utilizadas actualmente, en particular la denominada TRL/Thru-Reflect-Line, que permite medir los parámetros s en medios de transmisión planares (tales como Microstrip y CPW) con elevada precisión. <br/><br/>El capitulo IV propone y desarrolla teóricamente una formulación para los errores residuales de la calibración TRL y su repercusión en la precisión de las medidas de parámetros utilizando dicha técnica. <br/><br/>En el capitulo v se describen las técnicas de diseño de dispositivos de calibración y medida (test fixtures) en tecnología Microstrip para transistores chip, ente 1 y 43 GHZ. Se presentan resultados experimentales hasta 40 GHZ utilizando dos textos

Recommended citation
This citation was generated automatically.

Documents

Llistat documents

TLPC1de3.pdf

9.006Mb

TLPC2de3.pdf

8.464Mb

TLPC3de3.pdf

9.222Mb

 

Rights

ADVERTIMENT. L'accés als continguts d'aquesta tesi doctoral i la seva utilització ha de respectar els drets de la persona autora. Pot ser utilitzada per a consulta o estudi personal, així com en activitats o materials d'investigació i docència en els termes establerts a l'art. 32 del Text Refós de la Llei de Propietat Intel·lectual (RDL 1/1996). Per altres utilitzacions es requereix l'autorització prèvia i expressa de la persona autora. En qualsevol cas, en la utilització dels seus continguts caldrà indicar de forma clara el nom i cognoms de la persona autora i el títol de la tesi doctoral. No s'autoritza la seva reproducció o altres formes d'explotació efectuades amb finalitats de lucre ni la seva comunicació pública des d'un lloc aliè al servei TDX. Tampoc s'autoritza la presentació del seu contingut en una finestra o marc aliè a TDX (framing). Aquesta reserva de drets afecta tant als continguts de la tesi com als seus resums i índexs.

This item appears in the following Collection(s)