Development of optical characterization methods for micro-and nano- scale planar photonic band gap structures

Author

Kral, Zdenek

Director

Ferré Borrull, Josep

Date of defense

2009-05-29

ISBN

9788469245569

Legal Deposit

T-1537-2009



Department/Institute

Universitat Rovira i Virgili. Departament d'Enginyeria Electrònica, Elèctrica i Automàtica

Abstract

The characterization of photonic band gap materials (Photonic Crystals) is a fundamental issue in the development of the technologies for their fabrication and future application. This Doctoral Thesis has dealt with the development of optical characterization methods and their implementation to planar photonic structures. According to the objectives established in the present work we have obtained several results that are concluded in the following paragraphs:<br/><br/>&#61656; We have developed an experimental technique based on the Bragg diffraction in the near and middle infra red (IR) spectral range to determine the lattice properties of planar photonic structures.<br/><br/>&#61656; We have applied the Angular-Dependent Reflectance Spectroscopy technique (ADRS) to the characterization of photonic bands in PhC slabs. The objective was the implementation of the technique to our samples with lattice parameters that require the measurement to be carried out in the mid-IR spectral range.<br/><br/>&#61656; We have implemented the Angle-Resolved Spectroscopic Polarimetry to characterize the band structure of planar photonic-crystal structures in the visible spectral range.<br/><br/>&#61656; We have developed of a simulation tool and post-processing method to enhance the photonic bands recognition by the cited methods.


La caracterización de materiales de gap fotónico (Cristales Fotónicos) es un aspecto fundamental en el desarrollo de las tecnologías para su fabricación y su futura utilización. Esta tesis doctoral se ha ocupado del desarrollo de métodos ópticos de caracterización, así como de su implementación en estructuras fotónicas planares, también conocidas como láminas de cristal fotónico (Photonic Cristal Slabs). De acuerdo con los objetivos fijados para el presente trabajo, hemos obtenido varios resultados, los cuales se resumen en los párrafos siguientes:<br/><br/><br/>&#61656; Se ha desarrollado una técnica experimental basada en la difracción de Bragg en el rango espectral de la radiación infrarroja (IR) cercana y media, para determinar las propiedades de varias estructuras fotónicas planas.<br/><br/>&#61656; Se ha aplicado la técnica de la espectroscopia de reflectometría en ángulo variable (Angular-Dependent Reflectance Spectroscopy, ADRS) a la caracterización de bandas fotónicas en láminas de cristal fotónico. El objetivo ha sido la implementación de la técnica a las muestras fabricadas en el marco del grupo NePhoS de la Universitat Rovira i Virgili. Estas muestras tienen parámetros de red que requieren llevar a cabo una medición en un rango espectral del infrarojo (IR) medio.<br/><br/>&#61656; Finalmente, se ha desarrollado otra técnica óptica para caracterizar estructuras fotónicas planas: la polarimetría espectroscópica de ángulo variable.

Keywords

optical

Subjects

621.3 Electrical engineering

Documents

PhD.pdf

32.36Mb

 

Rights

ADVERTIMENT. L'accés als continguts d'aquesta tesi doctoral i la seva utilització ha de respectar els drets de la persona autora. Pot ser utilitzada per a consulta o estudi personal, així com en activitats o materials d'investigació i docència en els termes establerts a l'art. 32 del Text Refós de la Llei de Propietat Intel·lectual (RDL 1/1996). Per altres utilitzacions es requereix l'autorització prèvia i expressa de la persona autora. En qualsevol cas, en la utilització dels seus continguts caldrà indicar de forma clara el nom i cognoms de la persona autora i el títol de la tesi doctoral. No s'autoritza la seva reproducció o altres formes d'explotació efectuades amb finalitats de lucre ni la seva comunicació pública des d'un lloc aliè al servei TDX. Tampoc s'autoritza la presentació del seu contingut en una finestra o marc aliè a TDX (framing). Aquesta reserva de drets afecta tant als continguts de la tesi com als seus resums i índexs.

This item appears in the following Collection(s)