Degradación y conducción multifilamentaria en estructuras MIS/MIM basadas en HfO2 

    Muñoz Gorriz, Jordi (Fecha de defensa: 2021-02-21)

    En aquesta tesi doctoral es realitza una extensa investigació sobre el fenomen de la ruptura dielèctrica en dispositius metall-aïllant-semiconductor (MIS) i metall-aïllant-metall (MIM) basats en HfO2. Més específicament, ...